Bắt đầu trong vòng vài phút

Để sử dụng NaioAFM, chỉ cần cắm nguồn và cáp USB, khởi động phần mềm thân thiện với người dùng và bạn đã sẵn sàng sử dụng trong vòng vài phút! Không cần thiết lập quá nhiều chức năng. Hãy xem video tổng quan của chúng tôi để biết việc này dễ dàng như thế nào. Bởi vì NaioAFM đi kèm với cantilever gắn chip căn chỉnh , nên việc trao đổi cantilever cũng thực sự dễ dàng và việc căn chỉnh bằng laser đã trở thành dĩ vãng. Xem video trao đổi cantilever để biết nó được thực hiện như thế nào.

https://www.youtube.com/watch?v=mCUwm5TLHsw

Kinh nghiệm của người sử dụng

Giáo sư, tiến sĩ Nancy Burnham

"NaioAFM cho phép người dùng mới có được hình ảnh và dữ liệu AFM chất lượng cao chỉ trong vòng hai giờ. Trong bối cảnh khóa học bị hạn chế về thời gian, khi có lẽ chỉ có tổng cộng mười hai giờ trong phòng thí nghiệm được lên kế hoạch, hiệu quả này là một lợi thế đáng kể so với nhiều AFM khác, mà thời gian cam kết có thể lớn hơn gấp hai hoặc ba lần."

Các chế độ hình ảnh của NaioAFM 

Phần tổng quan này cho biết các chế độ mà thiết bị này có khả năng thực hiện. Một số chế độ có thể yêu cầu các thành phần bổ sung hoặc tùy chọn phần mềm. Để biết chi tiết, vui lòng xem tài liệu hoặc liên hệ trực tiếp với chúng tôi.

Các chế độ hình ảnh tiêu chuẩn

Static Force Mode

Dynamic Force Mode (Tapping Mode)

Phase Imaging Mode

Tính hấp dẫn

Magnetic Force Microscopy

Các tính điện

Conductive AFM (C-AFM)

Electrostatic Force Microscopy (EFM)

Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM)

Các tính cơ học

Force Spectroscopy

Force Modulation

Stiffness and Modulus

Adhesion

Force Mapping

Các chế độ đo lường khác

Lithography and Nanomanipulation

Các thông số kỹ thuật hệ thống

Scanner
Max. scan range / scan height (resolution) (1)	70 μm (1.0 nm) / 14 μm (0.2 nm)
Static / Dynamic RMS Z-noise	typ. 0.4 nm (max. 0.8 nm) / typ. 0.3 nm (max. 0.8 nm)
Max. sample size / height	12 mm / 3.5 mm
Max. sample stage positioning range	12 mm travel in each direction (6 mm from center to all sides)
Top view camera	1.5 ×1 mm FOV, 4× digital zoom, 2 μm optical resolution, 2048×1536 pixels, in-axis LED illumination
Side view observation	5×5 mm FOV, variable LED illumination (with optional side view camera: 2×2 mm FOV, 1280×1024 pixels)
Approach	4 mm linear motor, continuous or step-bystep approach
(1) Manufacturing tolerances are ±10%

Cantilever requirements
Width	min. 28 μm
Length	min. 225 μm or XY corrected
Reflective coating	Required on complete cantilever
Liquid measurements	Not possible
Alignment grooves	Required
Resonance frequency dynamic mode	15 kHz to 350 kHz
Cantilever shape	Single rectangular cantilevers only
Chip thickness	300 μm