Chi tiết thực tế quan trọng trong sử dụng hàng ngày

Giá đỡ Cantilever có gắn nam châm vào đầu quét giúp cho việc thay thế cantilever trở nên dễ dàng.

Các giá đỡ cantilever tương tự cũng bao gồm các cấu trúc căn chỉnh để sử dụng với cantilever có rãnh căn chỉnh. Điều này mang lại độ chính xác khi định vị lại micromet, phá vỡ sự liên kết bằng laser và cho phép bạn tìm thấy các tính năng mẫu giống nhau sau khi thay đổi cantilever.

 

 

 

 

Flex-Mount cũng bao gồm một camera nhìn từ trên xuống và nhìn từ bên tích hợp, giúp ích rất nhiều trong quá trình tiếp cận và định vị mẫu, cho phép bạn căn chỉnh chính xác đầu tip với đặc điểm quan tâm trên mẫu.

Nhìn từ trên xuống

 

Nhìn từ mặt bên

 

Độ chính xác và hiệu suất

Flex-Mount sử dụng máy quét điện từ tuyến tính cho chuyển động XY. Máy quét này mang lại độ lệch tuyến tính trung bình dưới 0,1% trên phạm vi quét đầy đủ, xếp hạng hàng đầu trên thị trường AFM. Trục Z được điều khiển bằng áp điện, với cảm biến vị trí cho phép vận hành vòng kín. Một hệ thống phát hiện cantilever cực nhạy có thể đo tốt trong dải tần số MHz. Đầu quét được kết nối với bộ điều khiển C3000i 24-bit đầy đủ tính năng với phản hồi kỹ thuật số và 2 bộ khuếch đại khóa kênh đôi.

Kính nhám

Ảnh AFM địa hình của kính; tổng quan
(cỡ quét: 5 µm × 5 µm)

 

Ảnh AFM địa hình của kính; chi tiết
(cỡ quét: 1 µm × 1 µm)

 

Biểu đồ của dữ liệu địa hình.

 

Sa = 313.10 pm, Sq = 393.66 pm, Sy = 4420 pm, Sp = 1981.7 pm, Sv = -2468.6 pm, Sm = -9.313 fm

Độ nhám của wafer silicon

Ảnh địa hình AFM của silicon wafer; tổng quan
(cỡ quét: 5 µm × 5 µm)

 

Ảnh địa hình AFM của silicon wafer; chi tiết
(cỡ quét: 1 µm × 1 µm)

 

Biểu đồ của dữ liệu địa hình.

 

Sa = 318.46 pm, Sq = 397.54 pm, Sy = 3335 pm, Sp = 1685.2 pm, Sv = -1670.4 pm, Sm = -19.499 fm

Các mảng của Stronti Titanat

Ảnh địa hình hiển thị các mảng của stronti titanat
(cỡ quét: 1.1 µm × 1.1 µm)

 

Mặt cắt và phân bố chiều cao