Scios 2 DualBeam
Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific
Giá bán:
Đang cập nhật
Liên hệ ngay
Kính hiển vi quét điện tử tia ion tập trung (FIB-SEM)
Một hệ thống phân tích cực kỳ cao độ phân giải của Thermo Scientific Scios 2 DualBeam cung cấp hiệu suất chuẩn bị mẫu và đặc điểm ba chiều xuất sắc cho một loạt các mẫu, bao gồm cả vật liệu từ tính và không dẫn điện. Với những tính năng đổi mới được thiết kế để tăng sản lượng, độ chính xác và sự thuận tiện sử dụng, Scios 2 DualBeam là một giải pháp lý tưởng để đáp ứng nhu cầu của các nhà khoa học và kỹ sư trong nghiên cứu và phân tích tiên tiến trên môi trường nghiên cứu học thuật, chính phủ và công nghiệp.
Phân tích dưới bề mặt
Việc xác định bề mặt hoặc ba chiều thường được yêu cầu để hiểu rõ hơn cấu trúc và tính chất của mẫu. Scios 2 DualBeam, với Phần mềm Auto Slice & View 4 (AS&V4) của Thermo Scientific tùy chọn, cho phép thu thập dữ liệu 3D đa phương tiện tự động chất lượng cao, bao gồm hình ảnh electron bắn lại (BSE) để tăng cường độ tương phản vật liệu, phổ phân tán năng lượng (EDS) để cung cấp thông tin về thành phần, và phân tán electron quay lại (EBSD) để cung cấp thông tin về cấu trúc và tinh thể. Kết hợp với Phần mềm Avizo của Thermo Scientific, Scios 2 DualBeam cung cấp một giải pháp luồng công việc độc đáo cho việc phân tích và đặc điểm ba chiều tiên tiến với độ phân giải cao ở tỉ lệ nanômét.Hình ảnh electron tán xạ ngược và electron thứ cấp
Cột electron NICol đổi mới cung cấp nền tảng cho khả năng hình ảnh và phát hiện với độ phân giải cao của hệ thống. Nó cung cấp chi tiết tỉ mỉ ở tỉ lệ nanômét, với một loạt các điều kiện làm việc, dù là hoạt động ở 30 keV ở chế độ STEM (để truy cập thông tin cấu trúc) hoặc ở năng lượng thấp hơn (để thu được thông tin chi tiết về bề mặt không mang điện). Với Hệ thống phát hiện Trinity của Thermo Scientific tích hợp trong ống kính độc đáo, Scios 2 DualBeam được thiết kế để thu thập hình ảnh electron phụ và BSE cùng một lúc với các góc và năng lượng khác nhau. Việc truy cập nhanh chóng vào thông tin tỉ mỉ ở tỉ lệ nanômét không chỉ là từ trên xuống mà còn trên các mẫu nghiêng hoặc các mẫu chia ngang. Các bộ thu dưới ống kính tùy chọn và chế độ giảm tốc tia electron đảm bảo thu thập tất cả các tín hiệu cùng một lúc một cách nhanh chóng và dễ dàng, tiết lộ những đặc điểm nhỏ nhất trên bề mặt hoặc trong các mẫu chia ngang. Kết quả được đạt được nhanh chóng, chính xác và lặp lại được nhờ vào thiết kế cột NICol độc đáo với các điều chỉnh tự động đầy đủ.Chuẩn bị mẫu TEM
Các nhà khoa học và kỹ sư liên tục đối mặt với những thách thức mới đòi hỏi phân tích tại vị trí cực kỳ cục bộ của các mẫu ngày càng phức tạp với các đặc điểm ngày càng nhỏ. Các đổi mới công nghệ mới nhất của Scios 2 DualBeam, kết hợp với Phần mềm AutoTEM 4 của Thermo Scientific dễ sử dụng và toàn diện tùy chọn và chuyên môn ứng dụng của Thermo Fisher Scientific, cho phép chuẩn bị mẫu S/TEM chất lượng cao tại vị trí cụ thể nhanh chóng và dễ dàng cho một loạt các vật liệu. Để đạt được kết quả chất lượng cao, việc mài cuối cùng với ion năng lượng thấp là cần thiết để giảm thiểu tổn thương bề mặt trên mẫu. Cột Focused Ion Beam (FIB) Sidewinder HT của Thermo Scientific không chỉ cung cấp hình ảnh và mài mịn ở điện áp cao mà còn cung cấp hiệu suất tốt ở điện áp thấp, cho phép tạo ra các lớp mỏng TEM chất lượng cao.
