Ứng dụng

• Nghiên cứu về pin
• Nghiên cứu kim loại
• Nghiên cứu polyme
• Nghiên cứu địa chất
• Dầu khí
• Hạt nano
• Pháp y
• Nghiên cứu xúc tác
• Sợi và bộ lọc
• Vật liệu 2D
• Thử nghiệm vật liệu ô tô

Kỹ thuật

Quang phổ quang điện tử tia X (XPS)

Tính năng chính

Nguồn tia X hiệu suất cao

Bộ đơn sắc tia X cho phép lựa chọn vùng phân tích từ 50 µm đến 400 µm theo các bước 5 µm, điều chỉnh phù hợp với đặc điểm quan tâm để tối đa hóa tín hiệu.

Quang học điện tử được tối ưu hóa

Thấu kính điện tử hiệu suất cao, máy phân tích bán cầu và máy dò cho phép khả năng phát hiện vượt trội và thu thập dữ liệu nhanh chóng. 

Xem mẫu

Tập trung vào các đặc điểm của mẫu bằng hệ thống quan sát quang học được cấp bằng sáng chế của Hệ thống K-Alpha XPS và XPS SnapMap, giúp bạn xác định chính xác các khu vực quan tâm một cách nhanh chóng.

Phân tích chất cách điện

Lớp bảo vệ tia ion kép đã được cấp bằng sáng chế kết hợp các tia ion năng lượng thấp với các electron năng lượng rất thấp (dưới 1 eV) để ngăn chặn việc tích điện mẫu trong quá trình phân tích, giúp loại bỏ nhu cầu tham chiếu điện tích trong hầu hết các trường hợp.

Phân tích chiều sâu

Tối ưu hóa nguồn tự động và xử lý khí đảm bảo hiệu suất tối ưu và thử nghiệm sai số thấp.

Điều khiển kỹ thuật số

Hoạt động trực quan—được hướng dẫn bởi hệ thống dữ liệu Avantage—làm cho Hệ thống K-Alpha XPS trở nên lý tưởng cho cả cơ sở nhiều người dùng, cơ sở dùng chung và các chuyên gia XPS cần một thiết bị hoạt động hiệu quả và phân tích thông lượng cao.

Giá đỡ mẫu tùy chọn

Hiện có sẵn các giá đỡ mẫu chuyên dụng để phân giải góc XPS, đo độ lệch mẫu hoặc để chuyển trơ từ hộp kín.

Thông số kỹ thuật

Để biết thêm thông tin chi tiết về K-Alpha, xin vui lòng truy cập website: https://www.thermofisher.com/vn/en/home/electron-microscopy/products/xps-instruments/k-alpha.html

Hoặc liên hệ trực tiếp đến ADGroup