Chat ngay
+84 2438612612
CÔNG TY TNHH THIẾT BỊ KHOA HỌC KỸ THUẬT AN DƯƠNG
info@adgroup.vn
Colorlib Template

FIB-SEM and Laser Ablation

Hãng sản xuất: Thermo Fisher Scientific

Giá bán: Đang cập nhật

Liên hệ ngay

Công cụ kết hợp mài bằng chùm tia ion tập trung và cắt bằng laser


Ứng dụng

  • Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
  • Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Các kỹ thuật

  • Đặc trưng hóa vật liệu 3D
  • Chuẩn bị mẫu S/TEM
  • Chuẩn bị mẫu APT
  • Cross-sectioning
  • Thí nghiệm in situ
  • Phân tích đa quy mô

Các tính năng của Hệ thống mài bằng chùm ion tập trung và cắt bằng laser Helios 5

Tốc độ loại bỏ vật liệu nhanh hơn 15.000 lần qua laser

Tạo các mặt cắt ngang (cross sections) cấp độ milimet với tốc độ loại bỏ vật liệu nhanh hơn 15.000 lần so với chùm tia ion tập trung thông thường.

Phân tích dữ liệu 3D và dưới bề mặt có ý nghĩa thống kê

Thu thập dữ liệu cho các thể tích lớn hơn nhiều trong thời gian ngắn hơn.

Đặt vết cắt chính xác và lặp lại

Điểm trùng khớp cho tất cả các chùm tia (SEM / (P)FIB / laser) cho phép đặt vết cắt chính xác và lặp lại, đồng thời đặc trưng hóa 3D.

Đặc trưng hóa nhanh các đặc điểm dưới bề mặt sâu

Chiết xuất các lamella TEM dưới bề mặt hoặc các mẫu để phân tích 3D.

Xử lý khối lượng lớn các vật liệu thách thức

Bao gồm các mẫu không dẫn điện hoặc nhạy cảm với chùm tia ion.

Đặc trưng hóa nhanh chóng và dễ dàng các mẫu nhạy cảm với không khí

Không cần chuyển mẫu giữa các thiết bị khác nhau để cắt ngang và chụp ảnh.

Chia sẻ tất cả các tính năng của dòng Helios 5

Chuẩn bị mẫu TEM và APT chất lượng cao và khả năng chụp ảnh độ phân giải cao.

Thông số kỹ thuật của Helios 5 Focused Ion Beam Milling và hệ thống Laser Ablation

Thông số kỹ thuật của Laser

Tích hợp laser

·        Tích hợp hoàntoàn trong buồng với cùng một điểm trùng khớp của cả 3 chùm tia (SEM/FIB/laser), cho phép đặt vết cắt chính xác và lặp lại cũng như đặc trưng hóa 3D.

 

First Harmonic

·        Bước sóng

·        Pulse duration

1030 nm (IR)
<280 fs

Second Harmonic

·        Bước sóng

·        Pulse duration

515 nm (green)
<300 fs

 

Hệ thống quang

·        Điểm trùng khớp

·        Vật kính

·        Phân cực

  • Khoảng cách làm việc = 4 mm (giống SEM/FIB)
  • Các thành phần khác (được điều chỉnh bằng motor)
  • Ngang/dọc

 

Tỷ lệ lặp lại

• 1 kHz – 1 MHz

 

Độ chính xác vị trí chùm tia

<250 nm

 

Màn trập bảo vệ

• Màn trập bảo vệ SEM/PFIB tự động

 

Phần mềm

 Laser control software
• Laser 3D serial sectioning workflow
• Laser 3D serial sectioning workflow with EBSD
• Laser Scripting*

 

Độ an toàn

• Vỏ laser khóa liên động (An toàn laser loại 1)

 


Để biết thêm chi tiết về tính năng, thông số của FIB-SEM and Laser Ablation, xin vui lòng truy cập website: https://www.thermofisher.com/vn/en/home/electron-microscopy/products/dualbeam-fib-sem-microscopes/fib-sem-laser-ablation.html#features

Hoặc liên hệ trực tiếp đến ADGroup để được hỗ trợ kỹ thuật

Sản phẩm liên quan