Kính hiển vi điện tử quét Verios G4 XHR SEM 

Verios SEM cung cấp hình ảnh chính xác với độ phân giải dưới nanomet trong dải năng lượng từ 1 đến 30 kV. Nó cung cấp độ tương phản tuyệt vời cần thiết cho các phép đo chính xác trên vật liệu trong nhiều ứng dụng mà không ảnh hưởng đến thông lượng cao, khả năng phân tích, tính linh hoạt của mẫu và sự dễ dàng của SEM truyền thống. Verios SEM có các công nghệ độc đáo như thấu kính công suất không đổi để có độ ổn định nhiệt cao hơn và quét tĩnh điện để có độ lệch tuyến tính cao hơn. Nó cực kỳ linh hoạt khi chọn tham số, làm việc trên các mẫu lớn hoặc hỗ trợ các ứng dụng bổ sung như phân tích hoặc in thạch bản. Verios XHR SEM cho phép cả người dùng không thường xuyên và chuyên gia truy cập dữ liệu kích thước nano chính xác và đầy đủ trong thời gian ngắn nhất, khám phá thông tin mà trước đây không có sẵn từ các kỹ thuật khác.