Hệ thống XPS Nexsa

  • Trang chủ / Sản phẩm / Kính hiển vi

    • Hệ thống XPS Nexsa

    Material Analysis and Development

    Nexsa spectrometer delivers flexibility to maximize the potential of your material. Flexibility in the forms of multiple-integrated technique options for true correlative data analysis and high throughput while maintain research quality results.




    Product Features

    • Insulator Analysis
    • High Performance Spectroscopy
    • Depth Profiling
    • Multi-technique Integration
    • Dual-mode ion source for expanded depth profiling capabilities
    • Tilt Module for ARXPS measurements
    • Avantage Software for for instrument control, data processing, and reporting
    • Small spot analysis

     

    Applications


    • Glass coatings
    • Polymers
    • Batteries
    • Graphene
    • Solar cells
    • OLEDs
    • Metals & oxides
    • Bio-surfaces
    • Thin Films
    • Semiconductors
    • Ceramics
    • Catalysts
    • Nanomaterials

     

    Optional Upgrades

    • RAMAN: Spectroscopic technique used to in chemistry to provide a structural fingerprint
    • ISS: Ion scattering spectroscopy is a technique in which a beam of ions is scattered by a surface
    • UPS: Ultra-violet photoelectron spectroscopy refers to the measurement of kinetic energy spectra of photoelectrons emitted by molecules which have absorbed ultraviolet photons, in order to determine molecular orbital energies in the valence region
    • REELS: Reflected electron energy loss spectroscopy provides information on electronic structure and can measure the presence of hydrogen

     

    SnapMap

    Bring sample features into focus with SnapMap's optical view. The optical view helps you pinpoint areas of interest quickly while developing a fully focused XPS image to further define your experiment.




    Specifications

    • Item Description: Thermo Scientific Nexsa is a fully integrated XPS instrument, with optional additional analysis capabilities
    • X-ray Source Type: Monochromated, micro-focused, low power Al Ka X-ray source
    • X-ray spot size: 10 - 400 µm (adjustable in 5 µm steps)
    • Analyzer Type: 180°, double-focusing, hemispherical analyser with 128-channel detector
    • Sampling Area: 3600 mm2
    • Maximum sample thickness: 20 mm
    • Depth profiling: EX06 monatomic ion source or MAGCIS dual mode ion source
    • Optional Accessories: UPS, ISS, REELS, iXR Raman spectrometer, MAGCIS, sample tilt module, sample bias module, vacuum transfer module, adaptor for glove box integration
    • Vacuum System: 2 x 260 l.s-1 turbo molecular pumps, with automated titanium sublimation pump, and backing pump

     

    Collateral

    SẢN PHẨM CÙNG LOẠI

    See more →

    • Hệ thống XPS K-Aplha

      Introduced in 2006, the Thermo Scientific™ K-Alpha™ XPS spectrometer brought a new approach to surface analysis. Focusing on delivering ...

    •  Kính hiển vi CELENA

      - Kính hiển vi CELENA là một giải pháp toàn diện cho việc phân tích hình ảnh, với độ phân giải cao, chất lượng vượt trội trong 1 thời ...

    •  Kính hiển vi quét xuyên ...

      Kính hiển vi quét xuyên hầm Hãng sản xuất: Nanosurf-Thụy Sỹ Model: NaioSTM Xuất xứ: Thụy Sỹ

    •  Kính hiển vi huỳnh quang ...

      Kính hiển vi huỳnh quang soi tế bào sống. Kính hiển vi huỳnh quang soi thế bào sống là công nghệ chủ chốt cho các ứng dụng nghiên ...

    •  Kính hiển vi ion hội tụ ( ...

      Tiết lộ khuyết tật dưới các bề mặt vật liệu và các thiết bị. Hệ thống chùm ion hội tụ (FIB) là công cụ tương tự như kính hiển vị điện tử nhưng sử dụng ...

    •  Kính hiển vi ion-điện tử

      Kính hiển vi ion-điện tử là một kính hiển vi điện tử quét kết hợp với chùm ion hội tụ cho phép quan sát và phân tích hình ảnh dưới bề mặt, hình ảnh ba ...

    •  Kính hiển vi điện tử truyền ...

      Độ phân giải cực cao cấp Angstrom. FEI là nhà cung cấp đứng đầu thế giới Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM), được tích hợp đầy đủ và tự động cho một ...

    •  Kính hiển vi điện tử quét

      Giải pháp tăng cường hiệu quả và phân tích. Kính hiển vi điện tử quét (SEM) được sử dụng để kiểm tra hình ảnh và thành phần của các vật liệu với dải độ ...