Công nghệ không phá hủy

  • Trang chủ / Công nghệ / Công nghệ không phá hủy
  • Kính hiển vi ion-điện tử
    Thứ năm, 06/06/2013

    <p>Kính hiển vi ion-điện tử là một kính hiển vi điện tử quét kết hợp với chùm ion hội tụ cho phép quan sát và phân tích hình ảnh dưới bề mặt, hình ảnh ba chiều cũng như các thí nghiệm in-situ trên bề mặt mẫu<strong>.  </strong>Hệ thống DualBeam ứng dụng trong nghiên cứu, thiết bị điện tử, tài nguyên thiên nhiên và khoa học đời sống.<strong> <br /></strong></p>


    Quanta 3D
    DualBeam là hệ thống đa năng nhất cho đặc tính và phân tích vật liệu 2D và 3D, Quanta 3D có ba chế độ chụp ảnh SEM (chân không cao, chân không thấp và môi trường), phù hợp với phạm vi rộng nhất của bất kỳ mẫu nào. Việc tích hợp chùm ion hội tụ (FIB) cho thêm khả năng tạo các lát cắt vuông góc để mở rộng phạm vi ứng dụng của nghiên cứu. Chế độ ESEM cho phép trong nghiên cứu tại chỗ các quá trình động học của vật liệu ở mức độ khác nhau như độ ẩm (lên đến 100% RH và nhiệt độ (lên đến 1500 ° C).

     

    Versa 3D
    Xây dựng trên lịch sử và thành công mang tính tiên phong của FEI DualBeam,công nghệ chân thấp và ESEM ™, FEI giới thiệu thiết bị DualBeam đa năng nhất hiện nay. Versa 3D cung cấp hiệu quả hình ảnh và phân tích cấp độ cao nhất, cung cấp một phạm vi lớn hơn của dữ liệu 3D thậm chí với các mẫu thách thức cao nhất.

     

    Helios NanoLab
    Helios NanoLab ™ cung cấp hình ảnh nổi bật với một cột electron công nghệ mới nhất, cùng với một bộ các đầu thu tín hiệu, một chuỗi công nghệ hình ảnh đạt độ tương phản và độ phân giải tuyệt vời, trong khi chùm ion hội tụ (FIB) hiệu quả cao với úng dụng tạo lớp cắt nhanh nhất, chuẩn bị mẫu nhanh nhất.

    TIN LIÊN QUAN